TU Berlin

Kontinuumsmechanik und MaterialtheorieArion Juritza - AFM & Lichtmikroskopie

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Arion Juritza

Arion Juritza
Lupe

TU Berlin, Institut für Mechanik
Fachgebiet Kontinuumsmechanik und Materialtheorie
Fakultät V
z.H. Herrn Juritza
Einsteinufer 5
D-10587 Berlin


  • Raum MS-211
  • Tel.: 314-22914
  • Tel.: 314-28310
  • Sprechstunden: n.V.

AFM & Lichtmikroskopie

Lupe


AFM - Prinzip

Lupe

Die Probenhöhe wird so eingestellt dass der Laserstrahl sich in der Mitte des Detektors befindet.

Lupe

... verändert sich die Probenhöhe so wird die Spitze mit dem Cantilever ausgelenkt, und der Laserstrahl wandert aus dem Detektorzentrum.

Lupe

Dies wird von der Steuerungselektronik registriert und die Probenposition so lange angepasst, bis der Laserstrahl sich wieder im Detektormittelpunkt befindet. Diese Piezo-Höhenregelung wird zur Topographieermittlung herangezogen.

AFM - Atomic Force Microscope

Lupe

max. Scanbereich: XY = 40 µm , Z = ~ 4 µm

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