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TU Berlin

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Arion Juritza

Arion Juritza
Lupe [1]

TU Berlin, Institut für Mechanik
Fachgebiet Kontinuumsmechanik und Materialtheorie
Fakultät V
z.H. Herrn Juritza
Einsteinufer 5
D-10587 Berlin


  • Raum MS-211
  • Tel.: 314-22914
  • Tel.: 314-28310
  • Email [2]
  • Sprechstunden: n.V.

AFM & Lichtmikroskopie

Lupe [3]


AFM - Prinzip

Lupe [4]

Die Probenhöhe wird so eingestellt dass der Laserstrahl sich in der Mitte des Detektors befindet.

Lupe [5]

... verändert sich die Probenhöhe so wird die Spitze mit dem Cantilever ausgelenkt, und der Laserstrahl wandert aus dem Detektorzentrum.

Lupe [6]

Dies wird von der Steuerungselektronik registriert und die Probenposition so lange angepasst, bis der Laserstrahl sich wieder im Detektormittelpunkt befindet. Diese Piezo-Höhenregelung wird zur Topographieermittlung herangezogen.

AFM - Atomic Force Microscope

Lupe [7]

max. Scanbereich: XY = 40 µm , Z = ~ 4 µm

Kontakt

Lehrstuhl Prof. W. H. Müller
Kontinuumsmechanik und Materialtheorie
Institut für Mechanik
Fakultät V
Sekr. MS2,
Raum MS 08a
Einsteinufer 5
D-10587 Berlin
Tel. +49 30 314-22332
Fax +49 30 314-24499
E-Mail-Anfrage [8]
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