Arion Juritza

TU Berlin, Institut für Mechanik
Fachgebiet Kontinuumsmechanik und Materialtheorie
Fakultät V
z.H. Herrn Juritza
Einsteinufer 5
D-10587 Berlin

• Raum MS-211
• Tel.: 314-22914
• Tel.: 314-28310
• Email
• Sprechstunden: n.V.

Durch Beschichtung von Oberflächen ist es möglich, diese zu veredeln. Dies kann neben z.B. optischen Effekten auch zur Veränderung der mechanischen Eigenschaften des Schicht-Substrat-Systems führen. Die Nanoindentierung ist ein probates Mittel zur Bestimmung mechanischer Materialkenngrößen, insbesondere kleiner Volumina bzw. dünner Schichten. Es wird der Einfluss verschiedener Schichten auf das Verhalten der Systeme bei lokal begrenzter Deformation untersucht.
Eindringtiefe des Diamanten: 50 nm - ~ 2000 nm
max. Kraft:  500 mN (0.5 N)

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Zug-Druckversuche mit einer MTS - TYTRON 250
Es handelt sich hierbei um ein servoelektrisches Prüfsystem mit Linearmotor für statische und dynamische Zug-Druckversuche

max. Messbereiche:

Kraft =  +/-  250 N und  +/- 60 N
Weg =  +/-    50 mm

Das Laserextensometer - Typ Parallelscanner dient zur berührungslosen Messung der Dehnung oder Stauchung von Prüfkörpern bei einachsiger Belastung.
Vor dem Versuch werden zwei Meßmarken an der Probe aufgebracht. Ein Laserstrahl wird auf eine rotierende planparallele Platte gerichtet. Beim Ein- und Austritt wird der Strahl an zwei gegenüberliegenden Flächen der Platte gebrochen, wodurch sich jeweils gleiche Brechungswinkel ergeben. Durch Rotation der planparallelen Platte wird der Laserstrahl parallel zu sich selbst abgelenkt und überläuft die Probe. Das Laserextensometer scannt den Meßbereich mit einem sichtbaren Laserstrahl ab und ermittelt automatisch die Referenzlänge. Die Positionen der Meßmarken werden während des gesamten Versuchs erfaßt.

AFM - Mikroskopie mit einem AFM (Atomic Force Microscope)

max. Scanbereich : XY = 40 µm , Z = ~ 4 µm

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Licht-Mikroskopie/digitale Bildverarbeitung

Vergrößerung: 10x - 100x,  50x, 200x, 500x, 1000x

Nähere Informationen

Einbettung verschiedener Proben in Harz, sowie Schliff der Proben zur Mikroskopischen Untersuchung